近場光學示意圖，繞射光從NSOM的光纖探針出來，此圖可以看到光波長。[1]
分別使用NSOM(上)和傳統的共軛焦焦顯微鏡 (下)來比較二硫化鉬薄片的光致發光記錄，比例尺長度：1微米。[2]
近場掃描光學顯微鏡 (NSOM/SNOM)是一個 顯微鏡 技術，用於結構調查，其利用漸逝波的特性打破遠場中繞射極限 。 在SNOM， 激發激光光透過一個直徑小於雷射波長的孔徑聚焦，從而在孔徑的遠端產生消逝場。[3] 當樣品在短距離地在孔徑下掃描，光學解析度只跟孔徑的直徑有關。 此時，橫向分辨率可達20 納米、垂直分辨率可達2-5 納米。[4][5]
如光學顯微鏡、此機制可以用於研究的不同性質，例如 折射率、化學結構和侷域壓力。也可以研究在次波長解析度下的動態特性。
NSOM/SNOM是一種掃描探針顯微鏡.
參考文獻[編輯]
- ^ (學位論文).
- ^ Bao, Wei; Borys, Nicholas J.; Ko, Changhyun; Suh, Joonki; Fan, Wen; Thron, Andrew; Zhang, Yingjie; Buyanin, Alexander; Zhang, Jie. Visualizing nanoscale excitonic relaxation properties of disordered edges and grain boundaries in monolayer molybdenum disulfide. Nature Communications. 2015, 6: 7993. Bibcode:2015NatCo...6E7993B. PMC 4557266
. PMID 26269394. doi:10.1038/ncomms8993.
- ^ Germany, WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH, Ulm,. SNOM || WITec. www.witec.de. [2017-04-06]. （原始內容存檔於2021-02-28） （美國英語）.
- ^ Dürig, U.; et al. Near-field optical scanning microscopy. J. Appl. Phys. 1986, 59 (10): 3318. Bibcode:1986JAP....59.3318D. doi:10.1063/1.336848.
- ^ Oshikane, Y.; et al. Observation of nanostructure by scanning near-field optical microscope with small sphere probe. Sci. Technol. Adv. Mater. (free access). 2007, 8 (3): 181. Bibcode:2007STAdM...8..181O. doi:10.1016/j.stam.2007.02.013.
外部連結[編輯]
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| | 常見 | |  Typical atomic force microscopy set-up |
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光學顯微鏡 |
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| | | 照明和
對比方法 | | |
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| | 熒光方法 | |
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| 亞衍射極限
顯微技術 | |
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