掃描電化學顯微鏡

掃描電化學顯微鏡（縮寫SECM）基於電化學原理工作，可測量微區內物質氧化或還原所給出的電化學電流。

利用驅動非常小的電極（探針）在靠近樣品處進行掃描，樣品可以是導體、絕緣體或半導體，從而獲得對應的微區電化學和相關信息，目前可達到的最高解像度約為幾十納米。