镭射诱导击穿光谱
| “laser”的各地常用译名 | |
|---|---|
| 中国大陆 | 激光 |
| 台湾 | 雷射、镭射 |
| 香港 | 激光、雷射、镭射 |
| 马新 | 激光、镭射、雷射 |
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镭射诱导击穿光谱（英语：Laser-induced breakdown spectroscopy，LIBS) 技术通过超短脉冲镭射聚焦样品表面形成等离子体，进而对等离子体发射光谱进行分析以确定样品的物质成分及含量[1][2]。超短脉冲镭射聚焦后能量密度较高，可以将任何物态（固态、液态、气态）的样品激发形成等离子体，LIBS技术（原则上）可以分析任何物态的样品，仅受到镭射的功率以及摄谱仪＆检测器的灵敏度和波长范围的限制。再者，几乎所有的元素被激发形成等离子体后都会发出特征谱线，因此，LIBS可以分析大多数的元素。如果要分析的材料的成分是已知的，LIBS可用于评估每个构成元素的相对丰度，或监测杂质的存在。在实践中，检测极限是：a）等离子体激发温度的函数，b）光收集窗口，以及c）所观查的过渡谱线的强度。LIBS利用光学发射光谱，并且是该程度非常类似于电弧/火花发射光谱。
LIBS在技术上是非常相似的一些其它基于镭射的分析技术，共享许多相同的硬件。这些技术是拉曼光谱学的振动光谱技术，镭射诱导荧光（LIF）的荧光光谱技术。实际上，现在设备已经被制造成在单个仪器中结合这些技术，允许样品原子的，分子的和结构的特征研究，以给予物理性质的一个更深入的了解。
硬件构成
[编辑]1064nm Nd:YAG脉冲镭射器，脉宽约为10ns，经聚焦后能量密度达到1GW/cm2。
光谱仪包括分光部分和光电转换模块。
参阅
[编辑]参考文献
[编辑]- ^ Radziemski, Leon J.; Cremers, David A. Handbook of laser-induced breakdown spectroscopy. New York: John Wiley. 2006. ISBN 0-470-09299-8.
- ^ Schechter, Israel; Miziolek, Andrzej W.; Vincenzo Palleschi. Laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS): fundamentals and applications. Cambridge, UK: Cambridge University Press. 2006. ISBN 0-521-85274-9.
